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【2h】

Computation Program System for Structural Analysis and Quantification of Organic Contaminants on Silicon Wafer Surfaces from Mass Spectra.

机译：硅晶片硅晶片表面有机污染物结构分析和定量的计算程序系统。

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Keiji SAITO; Hiroshi SIMIZU; Toshio OGAWA;
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年度 2000
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1. Computation Program System for Structural Analysis and Quantification of Organic Contaminants on Silicon Wafer Surfaces from Mass Spectra [J] . Keiji SAITO, Hiroshi SIMIZU, Toshio OGAWA Analytical Sciences . 2000,第6期

机译：基于质谱的硅片表面有机污染物的结构分析和定量计算程序系统
2. TXRF Analysis of Low Z Elements and TXRF-NEXAFS Speciation of Organic Contaminants on Silicon Wafer Surfaces Excited by Monochromatized Undulator Radiation [J] . B. Beckhoff, R. Fliegauf, G. Ulm, Diffusion and Defect Data. Solid State Data, Part B. Solid State Phenomena . 2003,第0期

机译：单色波状起伏辐射激发的硅晶片表面低Z元素的TXRF分析和有机污染物的TXRF-NEXAFS形态
3. Analysis of Organic Contaminants in Cleanroom Air and on Silicon Wafer Surface [J] . Taketoshi Fujimoto, Kikuo Takeda, Yasuko Sakamoto, エアロゾル研究 . 2000,第1期

机译：洁净室空气和硅晶片表面的有机污染物分析
4. Study of Organic Contaminants Analysis using TD-GCMS on Silicon Wafer Surfaces [C] . Toshikazu Taira, Shouichi Hiroshima, Yoshimi Shiramizu, High Purity Silicon 10 . 2008

机译：用TD-GCMS分析硅晶片表面有机污染物的研究
5. Trace Analysis of Organic and Metal Contaminants in Biological and Environmental Systems by Liquid Chromatography-, Inductively Coupled Plasma-, and Secondary Ion Mass Spectrometry [D] . Wegst-Uhrich, Stacia R. 2015

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6. Growth and Self-Assembly of Silicon–Silicon Carbide Nanoparticles into Hybrid Worm-Like Nanostructures at the Silicon Wafer Surface [O] . Manuel Alejandro Perez-Guzman, Rebeca Ortega-Amaya, Yasuhiro Matsumoto, 2018

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7. Origin of Trace Organic Contaminants Adsorbed on the Surface of Silicon Wafers in a Manufacturing Line. [O] . Hyun-Mee PARK, Young-Man KIM, Chan Seong CHEONG, 2002

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8. Identification and Elimination of Organic Contaminants on the Surface of PLZT Ceramic Wafers [R] . Wagner, J. A. 1978

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