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【2h】

Strain mapping inside an individual processed vertical nanowire transistor using scanning X-ray nanodiffraction

机译：使用扫描X射线纳米二聚重建在单个加工的垂直纳米线晶体管内部的应变映射

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Dmitry Dzhigaev; Johannes Svensson; Abinaya Krishnaraja; Zhongyunshen Zhu; Zhe Ren; Yi Liu; Sebastian Kalbfleisch; Alexander Björling; Filip Lenrick; Zoltan Imre Balogh; Susanna Hammarberg; Jesper Wallentin; Rainer Timm; Lars-Erik Wernersson; Anders Mikkelsen;
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年度 2020
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