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【2h】

Coherent X-Ray Diffraction Imaging and Characterization of Strain in Silicon-on-Insulator Nanostructures

机译：绝缘体纳米结构中应变的相干X射线衍射成像及其表征

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Gang Xiong; Oussama Moutanabbir; Manfred Reiche; Ross Harder; Ian Robinson;
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年度 2014
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1. Coherent X-Ray Diffraction Imaging and Characterization of Strain in Silicon-on-Insulator Nanostructures [J] . Gang Xiong, Oussama Moutanabbir, Manfred Reiche, Advanced Materials . 2014,第46期

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