机译:掺入电介质袋(VESIMOS-DP)的垂直应变直击式电离MOSFET的掺杂浓度分析
机译:增强垂直应变碰撞电离MOSFET的可靠性,其具有用于超敏感的生物传感器应用的介电袋
机译:具有较高κLaLuOa栅极介电层的应变SiGe沟道p-MOSFET的迁移率增强和栅极诱导的漏极泄漏分析
机译:结合电介质袋(VESIMOS-DP)的垂直应变SiGe冲击电离MOSFET的迁移率增强
机译:结合了硅锗异质结的垂直环绕栅MOSFET。
机译:具有ZrO2介质的高迁移率Ge pMOSFET:后退火的影响
机译:掺杂浓度分析垂直应变-SiGe碰撞电离MOSFET介电袋(VESIMOS-DP)的性能分析