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Optimization of the Epitaxial Design of High Current Density Resonant Tunneling Diodes for Terahertz Emitters

机译:太赫兹发射极高电流密度谐振隧穿二极管外延设计的优化

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摘要

We discuss the numerical simulation of high current density InGaAs/AlAs/InP resonant tunneling diodes with a view to their optimization for application as THz emitters. We introduce a figure of merit based upon the ratio of maximum extractable THz power and the electrical power developed in the chip. The aim being to develop high efficiency emitters as output power is presently limited by catastrophic failure. A description of the interplay of key parameters follows, with constraints on strained layer epitaxy introduced. We propose an optimized structure utilizing thin barriers paired with a comparatively wide quantum well that satisfies strained layer epitaxy constraints.
机译:我们讨论了高电流密度InGaAs / AlAs / InP谐振隧穿二极管的数值模拟,以期对其作为THz发射器的应用进行优化。我们基于最大可提取THz功率与芯片中开发的电功率之比介绍品质因数。由于目前的灾难性故障限制了输出功率,因此开发高效率发射器的目的是。以下是关键参数相互作用的描述,并介绍了对应变层外延的约束。我们提出了一种优化的结构,该结构利用了薄的势垒和相对宽的量子阱,可以满足应变层外延约束。

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