Дослідження характеристик вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтролерів родини STM32F4XX згідно з методикою NIST STS

摘要

Проведено тестування вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтро-лерів родини STM32F4XX з ядром ARM Cortex-M4F згідно з методикою NIST STS зарізних значень тактової частоти. Показано, що за результатами тестів NIST STS цігенератори задовольняють вимоги, які ставляться до генераторів випадкових чисел укриптографічних додатках. Testing of microcontroller’s hardware random number generator of familySTM32F4XX with the kernel ARM Cortex-M4F is conducted in obedience to the method ofNIST STS at the different values of clock rate. It is shown that as a result of NIST STS tests these generators satisfy requirements which behave to the random number generators incryptographic applications.