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Development of lead-free thin-film dielectrics for capacitor applications

机译:开发用于电容器的无铅薄膜电介质

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摘要

This PhD project aims to develop lead-free thin-film dielectric materials for fixed value, voltage tunable and high-k zipping variable capacitors using growth techniques that can be scaled for silicon batch fabrication. The thesis specifically details the growth and characterisation of barium zirconate titanate (BZT) and bismuth zinc niobate (BZN) dielectric thin films. Fixed value and tunable capacitors have been realised through the use of low and high permittivity dielectric thin film materials in both the amorphous and crystalline states. Planar devices fabricated using BZT and BZN dielectric thin films were grown by sol-gel and RF magnetron sputtering, respectively. The effects of different bottom electrodes were also investigated. Capacitors in a metal-insulator-metal (MIM) [metal-ferroelectric-metal (MFM) for BZT] structure have been fabricated to characterise the dielectric films at low frequency to 300 kHz. Cont/d.
机译:该博士项目旨在使用可扩展规模的批量生产技术开发用于固定值,电压可调和高k拉链可变电容器的无铅薄膜电介质材料。本文具体介绍了锆钛酸钡(BZT)和铌酸铋锌(BZN)电介质薄膜的生长和表征。通过使用处于非晶态和结晶态的低和高介电常数介电薄膜材料,已经实现了固定值和可调电容器。使用BZT和BZN电介质薄膜制造的平面器件分别通过溶胶-凝胶法和RF磁控溅射法生长。还研究了不同底部电极的影响。已经制造了金属-绝缘体-金属(MIM)[用于BZT的金属-铁电金属(MFM)]结构中的电容器,以表征低频至300 kHz的介电膜。继续/ d。

著录项

  • 作者

    Darbyshire David Anthony;

  • 作者单位
  • 年度 2010
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 {"code":"en","name":"English","id":9}
  • 中图分类

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