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机译:透射光谱法测定聚合物薄膜光学参数的研究
蔡国雄;
机译:仅使用透射光谱测定通过热线化学气相沉积技术沉积的a-Si:H薄膜的光学参数
机译:用光学方法确定表征薄膜的结构参数:扫描角反射法和光波导光模光谱法的比较
机译:从反射光谱确定SrTiO3薄膜的红外光学参数
机译:基于光谱*的聚合物薄膜光学参数的确定与分析
机译:基于AFM的聚合物薄膜机械性能的测量以及几乎折射率匹配的腔的光路长度的确定。
机译:湿化学法制备ZnO粉体和薄膜的合成光学和形貌研究
机译:基于光谱的聚合物薄膜光学参数的确定与分析
机译:薄多孔膜光学参数的测定方法
机译:通过测量其波导参数来确定薄膜,优选光致抗蚀剂薄膜的物理参数的方法
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