Temperature measurement; Thermocouples; Wafers; Meetings; Semiconductor devices; Chemical vapor deposition; Thermal processing; Gaithersberg(Maryland); Colorado Springs(Colorado); ULSI(Ultra Large Scale Integration);
机译:绝缘体上裸硅晶片上的低温伪金属氧化物半导体场效应晶体管测量
机译:在低压CVD设备中处理两个晶圆的半导体晶圆上的温度分布和沉积速率
机译:用于III-V化合物半导体至硅光子集成电路的低温强SiO_(2)-SiO_(2)共价晶圆键合
机译:确定通用半导体材料的光学特性变化引起的晶片温度测量的不确定性
机译:使用激光红外光热辐射法测量半导体硅晶片中的载流子密度波深度轮廓图。
机译:室温下半导体纳米粒子的单分子量子受限斯塔克效应测量
机译:用于热光电应用的半导体晶片的电特性的RF /微波无损测量
机译:使用超声波粘合的platinel II热电偶进行基板温度测量。 (重新公布新的可用性信息)。