Degradation and ESR Failures in MnO2 Chip Tantalum Capacitors.

著录项

• 作者

  Teverovsky, A. A.;

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• 作者单位

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• 年度 2017
• 页码 1-18
• 总页数 18
• 原文格式 PDF
• 正文语种 eng
• 中图分类
• 关键词

  Capacitors; Tantalum; Performance tests; Electric potential; Energy dissipation; Power efficiency; Vacuum chambers; High temperature; Stresses; Reliability; Simulation; Degradation;

  机译：电容器;钽;性能测试;电势;能量耗散;功率效率;真空室;高温;应力;可靠性;模拟;降解;