ENCAPSULATED MICROCIRCUITS; PLASTICS; QUALIFICATIONS; AEROSPACE ENVIRONMENTS; RELIABILITY; OPERATING TEMPERATURE; LIFE (DURABILITY); SCANNING ELECTRON MICROSCOPY; DESTRUCTIVE TESTS; FAILURE ANALYSIS; PRODUCT DEVELOPMENT;
机译:塑料封装微电路(PEM)故障分析
机译:霍尼韦尔(中国)筛选塑料封装微电路的经验
机译:用于纳米卫星的塑料封装微电路的充电和放电现象
机译:塑料封装微电路(PEM)资格测试
机译:带有贵金属预镀引线框架的塑料封装微电路封装的蠕变腐蚀。
机译:具有突触突触的神经元网络中微电路的自组织
机译:带有贵金属预镀铅的塑料封装微电路封装的蠕变腐蚀