Radiation Failures in Intel 14nm Microprocessors.

著录项

• 作者

  Bossev, D. P.; Duncan, A. R.; Ingalls, J. D.; Gadlage, M. J.; Roach, A. H.; Kay, M. J.; Szabo, C.; Berger, T. J.; York, D. A.; Williams, A.; LaBel, K.;

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• 作者单位

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• 年度 2016
• 页码 1-17
• 总页数 17
• 原文格式 PDF
• 正文语种 eng
• 中图分类
• 关键词

  Microprocessors; Extraterrestrial radiation; Ionizing radiation; Single event upsets; System failures; Failure modes; Microscopy; Heavy ions; Failure analysis;

  机译：微处理器;地外辐射;电离辐射;单事件干扰;系统故障;失效模式;显微镜;重离子;失效分析;