Electron microscopy ; Secondary emission ; Aluminum ; Dispersion ; Image ; Material ; Metal ; Metallography ; Micrography ; Microstructure ; Nickel ; Oxide ; Particle ; Tungsten;
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机译:出版商注:“使用低压高分辨率扫描电子显微镜直接观察和分析蛋黄壳材料:纳米金属颗粒包裹在金属氧化物,碳和聚合物中”[apL mater。 2,113317(2014)]