Thermal cycling tests ; Semiconductors(Materials) ; Electric potential ; High temperature ; Low noise ; Chips ; Cryogenic temperature ; Packaging ; Test ranges ; Stability ; Degradation;
机译:极端温度范围电子产品的SiGe精密电压基准的质子容差
机译:适用于极端辐射环境仪器系统的宽温度,耐辐射,CMOS兼容精密电压基准
机译:Ge分级对SiGe HBT精密电压基准的偏置和温度特性的影响
机译:用于极端温度范围电子产品的SiGe BiCMOS精密电压基准
机译:超低压数字电路和极限温度电子设计。
机译:超低功率高温和辐射硬互补金属氧化物半导体(CMOS)绝缘体上硅(SOI)电压基准
机译:最新高级低压低温度系数CMOS带隙基准电压源的设计考虑