Radiation effects; EDB/440104; EDB/440200;
机译:使用瞬态电荷技术(TChT)确定中子辐照的高电阻率硅探测器和材料的费米能级位置
机译:使用热激发电流光谱仪研究高通量快中子辐照的高电阻率硅探测器的深能级
机译:类型反转现象的研究:中子辐照的硅p / sup +/- n结探测器中的空间电荷区域中的电阻率和载流子迁移率以及电中性体
机译:类型反转现象的研究:空间电荷区的电阻率和载流子迁移率以及电中性大块中子辐照的硅p / sup +/- n结检测器
机译:中子辐照导致碳化硅探测器位移损伤的建模。
机译:使用简单的混合加载技术通过混合介孔二氧化硅材料并入荧光探针对痕量汞进行混合读写测定。
机译:使用瞬态电荷技术(TCHT)测定中子辐照高电阻率硅探测器和材料的费米水平位置
机译:使用瞬态电荷技术(TChT)测定中子辐照高电阻率硅探测器和材料的费米能级位置