Si Semiconductor Detectors; Annealing; Doped Materials; Neutron Fluence; Oxidation; Physical Radiation Effects; Space Charge; Stability;
机译:通过各种热氧化工艺制备的中子辐照硅探测器的电离空间电荷有效浓度(N / sub eff /)的长期稳定性研究
机译:中子辐照硅探测器的电离空间电荷有效浓度(N / sub eff /)反向退火的各种模型之间的实验比较
机译:使用热激发电流光谱仪研究高通量快中子辐照的高电阻率硅探测器的深能级
机译:通过各种热氧化工艺制造的中子辐照硅探测器的电离空间电荷有效浓度(N / sub eff /)的长期稳定性研究
机译:氧化锶铁/二氧化硅/硅和氧化锶铁/氧化铝薄膜系统的热稳定性:透射电子显微镜研究薄膜系统的界面结构和氧化锶铁/氧化铝的电导传感响应。
机译:成长中子辐照的氨热合成GaN中陷阱的脉冲光电离光谱
机译:各种模型的实验比较,用于反向退火的中子化硅探测器的有效浓度(n / sum eff /)的逆退火
机译:中子辐照硅探测器有效电离空间电荷浓度(N(sub eff))反向退火的各种模型的实验比较