Field-programmable gate arrays; Single event upsets; Circuits; Synchronism; Redundancy; Heavy ions; Accelerated life tests; Topology; Flip-flops;
机译:在基于SRAM的FPGA上实现的TMR电路的布局感知多单元扰动效应分析
机译:一种新的分析方法,用于评估SEU在通过基于SRAM的FPGA实现的TMR架构中的影响
机译:用于基于SRAM的FPGA的零开销跨域误差弹性部分可重新配置X-TMR的新型工具流
机译:基于SRAM基FPGA的TMR架构中辐射造成的横域误差分析
机译:基于SRAM的FPGA中实现的软核处理器的硬件和软件容错
机译:高性能信息系统中基于SRAM的FPGA的软错误敏感性分析