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Effects of emitter-tied field plates on lateral PNP ionizing radiation response

机译:发射极结合场板对横向pNp电离辐射响应的影响

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摘要

Radiation response comparisons of lateral PNP bipolar technologies reveal that device hardening may be achieved by extending the emitter contact over the active base. The emitter-tied field plate suppresses recombination of carriers with interface traps.

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