首页> 美国政府科技报告 >Consideration on Isochronal Anneal Technique: From Measurement to Physics
【24h】

Consideration on Isochronal Anneal Technique: From Measurement to Physics

机译:等时退火技术的思考:从测量到物理

获取原文

摘要

The isochronal anneal technique used to predict isothermal anneal behavior of MOS devices is analyzed as a function of experimental parameters. The effects of detrapping of trapped holes and compensating electrons are discussed.

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号