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High-Resolution AES Mapping and TEM Study of Cu(In,Ga)Se2 Thin Film Growth: Preprint.

机译：Cu（In，Ga）se2薄膜生长的高分辨率aEs映射和TEm研究：预印刷。

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Presented at 2001 NCPV Program Review Meeting: TEM and high-resolution AES mapping data on CIGS samples.

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作者
Perkins, C. L.;
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作者单位

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年度 2001
页码 1-4
总页数 4
原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类工业技术;
关键词
Meetings; Auger electron spectroscopy; Transition electron microscopy; Thin films; Solar cells; Deposition; Electrons; Indium; Copper; Crystal growth;

机译：会议;俄歇电子能谱;过渡电子显微镜;薄膜;太阳能电池;沉积;电子;铟;铜;晶体生长;

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