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【24h】

Short Range Bonding Interaction at Metal-Metal Interfaces

机译:金属 - 金属界面的短程键合相互作用

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摘要

Freshly deposited Mo surfaces were exposed to a beam of sputtered Ta atoms for varying, controlled lengths of time. The resultant number of deposited Ta atoms/cm exp 2 was subsequently measured using Rutherford Backscattering. (ERA citation 10:037073)

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