Gallium Arsenides; Annealing; Defects; Dislocations; Epitaxy; Semiconductor Materials; Silicon; Substrates; Superlattices; Thermal Cycling; ERDA/360602; ERDA/426000; ERDA/360601;
机译:用于集成硅光子的平底(001)Si的低位位错密度抗磷酶边界自由GaAs微粒的选择性区域杂志
机译:通过原子层沉积在GaAs(111)A上的La_2O_3和La_2-xY_xO_3的异质外延:实现低界面陷阱密度
机译:In_xGa_(1-x)As / GaAs异质外延过程中的移动位错密度和应变弛豫速率演变
机译:GaAs(310)和Si(310)衬底上MBE MCT异质外延的V缺陷
机译:硅上异质外延的锗中少数载流子寿命与缺陷密度分布的经验相关性。
机译:勘误:纳米种子在隧道氧化物上无缺陷的外延横向过生长而产生的高电流密度GaAs / Si整流异质结
机译:GaAs对Si的杂肝:降低脱晶缺陷密度的方法
机译:降低Gaas / si异质外延中缺陷密度的方法。