Ion implantation; Solid state chemistry; Radiation hardening; Thin films; Trapping(Charged particles); Cross sections; Microelectronics; Separation; Electron capture; Silicon on insulator;
机译:高性能和辐射强化SPARC-V8处理器的设计
机译:通过脉冲激光测试和SPICE分析验证辐射硬化设计
机译:脉冲淬火基于28 nm批量CMOS过程的模拟单事件瞬态缓解模拟单事件瞬态缓解的辐射硬化
机译:霍尼韦尔辐射增强型32位处理器:容错且可测试的处理器
机译:通过设计技术对硅锗异质结双极晶体管和数字逻辑电路进行硬度保证测试和辐射硬化。
机译:用于辐射硬化电荷敏感放大器的集成电路设计最多2个MRAD
机译:基于微控制器的测试平台的设计,构建和编程,适用于微电子电路的辐射测试