Gates(Circuits); Integrated circuits; Complementary metal oxide semiconductors; Radiation hardening; Bulk semiconductors; Threshold effects; Electronic equipment; Theses; Very large scale integration; Voltage; Electric current; Leakage(Electrical); Energy;
机译:传输门设计和偏置对固定光电二极管CMOS图像传感器的辐射硬度的影响
机译:精确的ICE模拟设计的SPICE模型
机译:设计0.18- / splμm/ m CMOS产生的模拟检测器读出电路的辐射硬度观点
机译:高k介电/金属栅极45 nm体CMOS技术的质子辐射硬度的晶圆级统计评估
机译:体和SOI FinFET中的辐射引起的单事件瞬变(SET)效应以及与体CMOS的鲁棒性比较。
机译:填充深度和辐照时间对填充复合材料表面硬度和固化度的影响
机译:替代的栅极设计,用于提高块状CMOS集成电路的辐射硬度