Meetings; Semiconductors; Defects(Materials); Interfaces; Substrates; Etching; Thermal stresses; Workshops; Implantation; Electric contacts; Band gaps;
机译:通过缺陷准费米能级控制减少宽带隙半导体中的点缺陷
机译:XUV感应的瞬态相位光栅,用于探测宽带隙半导体中的超快载流子产生和复合过程
机译:使用高分辨率数码相机宽带隙半导体中晶体缺陷的X射线地形
机译:点缺陷光激发在宽带隙氧化物表面的电子和分子过程
机译:宽带隙金属氧化物半导体的电缺陷与器件性能的相关性
机译:通过宽带隙半导体中的直接毫微微第二激光书写使能彩色中心
机译:宽带隙半导体缺陷研究的高温深型瞬态光谱系统