机译:通过电容电压测量探查超薄势垒GaAs / AlAs超晶格中的载流子限制
机译:界面陷阱和边界陷阱对InGaAs MOSFET中电流-电压,电容-电压和Split-CV迁移率测量的影响
机译:基于阴极荧光光谱,二次离子质谱和电容电压测量研究MPCVD生长的同质外延金刚石层中的硼掺杂
机译:双台面结构电容电压测量法确定Ⅱ型超晶格的背景掺杂类型
机译:II型超晶格红外光电二极管中暗电流抑制的平面工程。
机译:电容电压测量中高k材料的固有和固有频率色散
机译:接口和边界陷阱对IngaAs MOSFET中电流电压,电容 - 电压和分裂 - CV移动性测量的影响