Characterization and Reliability of Vertical N-Type Gallium Nitride Schottky Contacts.

著录项

• 作者

  Gardner, M. L.;

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• 作者单位

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• 年度 2016
• 页码 1-101
• 总页数 101
• 原文格式 PDF
• 正文语种 eng
• 中图分类
• 关键词

  Gallium nitrades; Power electronics; Semiconductors; Accelerated testing; Reliability; Molybdenum; Chromium; Metal-semiconductor junctions;

  机译：Gallium nitrades;电力电子;半导体;加速测试;可靠性;钼;铬;金属 - 半导体结;