Sulla precisione del metodo fotografico nella diffrazione dei raggi X

摘要

In questo lavoro vengono discussi gli errori che più spesso si com mettono nella raccolta e nella misura delle intensità dei fasci diffratti da un monocristallo, con particolare riferimento al metodo fotografico. e sono suggeriti alcuni accorgimenti per ottimizzare i procedimenti,So no quindi presentati dei risultati per i riflessi h01 e Okl di una sostanza a struttura nota (Nichel-dietilditiocarbammato), raccolti tenendo conto delle conclusioni precedentemente raggiunte, e si paragona l'accuratez za di tali risultati con quelli di misure antecedenti.