Quartz capacitors ; Reliability(Electronics) ; Dielectric films ; Sputtering ; Radiofrequency ; Manufacturing methods ; Great Britain;
机译:r沉积非晶氧化铝薄膜的精细表征和介电性能研究。 F。磁控溅射
机译:r的影响F。电离r沉积在氮化碳膜上的天线。 F。磁控溅射
机译:用R.F.磁控溅射技术使用热退火改善ZnO纳米结构的感测表征
机译:带有BaAl2S4的TFEL器件的介电叠层:射频磁控溅射沉积的Eu磷
机译:用于去耦应用的具有溅射阳极氧化五氧化铌电介质的薄膜集成电容器。
机译:平行平面测试电容器中介电损耗和介电常数的测量
机译:腔室压力对多层陶瓷电容器溅射MgTiO3Films介电性能的影响