机译:可编程只读存储器(pROm)的可靠性评估。第三部分:紫外线可擦除pROm。
Memory devices; Reliability(Electronics); Specifications; Programmed instruction; High reliability; Life tests; Military applications; Erasure; Procurement; Test and evaluation; Programmable read only memories;
机译:微电子学和光子学试验台上的紫外线可擦可编程只读存储器实验的微剂量法:小体积分析的最新进展
机译:紫外线可擦可编程只读存储器的FAMOS单元的有效敏感体积的测量
机译:基于LiNbO / sub 3 /通道波导的全光可擦可编程只读存储器(EPROM)
机译:使用X射线辐射从CMOS可编程只读存储器中擦除信息
机译:闪存可擦可编程只读存储设备中的热载流子效应。
机译:编程/擦除操作对基于氧化物的电阻式开关存储器性能的影响
机译:高密度和低压可编程缩放Sonos非易失性存储器,用于字节和闪存型EEPROM