首页> 美国政府科技报告 >New Profiling Technique Applicable to the Measurements Sensitive to the Free-Carrier Concentration Rather Than the Depletion Layer Thickness.
【24h】

New Profiling Technique Applicable to the Measurements Sensitive to the Free-Carrier Concentration Rather Than the Depletion Layer Thickness.

机译:新的分析技术适用于对自由载体浓度敏感的测量,而不是对耗尽层厚度的敏感度。

获取原文

摘要

No abstract available.

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号