首页> 美国政府科技报告 >Indentation Load Relaxation Experiments with Indentation Depth in the SubmicronRange
【24h】

Indentation Load Relaxation Experiments with Indentation Depth in the SubmicronRange

机译:submicronRange中压痕深度的压痕负载松弛实验

获取原文

摘要

No abstract available.

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号