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X-ray Photoelectron Spectroscopy Sputter Depth Profile Analysis of SpatiallyControlled Microstructures in Conductive Polymer Films

机译：导电聚合物薄膜中空间控制微结构的X射线光电子能谱溅射深度剖面分析

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作者
MacKay, S. G.; Bakir, M.; Musselman, I. H.; Meyer, T. J.; Linton, R. W.;
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作者单位

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年度 1991
页码
总页数 8
原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类工业技术;
关键词
Thin films; Polymeric films; Sputtering; Microstructure; Reprints;

机译：薄膜;聚合物薄膜;溅射;微结构;重印;

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