Valence bands; Density; Deposition; Electrons; Energy; Films; Hydroxides; Photoelectrons; Semiconductors; Spectroscopy; Structures; Time; X ray photoelectron spectroscopy; X rays; Reprints; Ceramic materials;
机译:小于0.1μm互补金属氧化物半导体栅氧化物堆栈的HfO_(2)/ SiO_(2)界面的热稳定性:价带和通过软X射线光电子能谱定量研究核能级
机译:高分辨率硬X射线光电子能谱:价带和核能级谱在材料科学中的应用
机译:铁和价带X射线光电子能谱研究并通过能带结构计算解释了0.5 M H_2SO_4中钼金属的电化学氧化
机译:X射线光电子能谱法探测MoO
机译:基于光电子能谱价带测量的铬取代的锂锰氧化物的电化学模型。
机译:X射线光电子能谱法测量β-Ga2O3/纤锌矿GaN异质结构的价带偏移
机译:发行商注意事项:“用于副0.1μm互补金属氧化物半导体栅极氧化物堆叠的”HFO2 / SiO2接口的热稳定性:软X射线光电子能谱“的价带和定量核心水平研究”J。苹果。物理。 96,6362(2004)