Broadband Impedance Microscopy for Research on Complex Quantum Materials.

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• 作者

  Lai, K.;

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• 作者单位

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• 年度 2016
• 页码 1-12
• 总页数 12
• 原文格式 PDF
• 正文语种 eng
• 中图分类
• 关键词

  Broadband; Impedance; Microscopy; Resolution; Capacitance; Sensitivity; Dielectrics; Domain walls; Bim (broadband impedance microscopes); Nanoscale electrical imaging; Collective behavior; Quantum materials; Spatial resolution; Capacitance sensitivity;

  机译：宽带;阻抗;显微镜;分辨率;电容;灵敏度;电介质;畴壁; Bim（宽带阻抗显微镜）;纳米级电子成像;集体行为;量子材料;空间分辨率;电容灵敏度;