Physical-Mechanisms Based Reliability Analysis For Emerging Technologies.

著录项

• 作者

  Schrimpf, R.;

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• 作者单位

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• 年度 2017
• 页码 1-15
• 总页数 15
• 原文格式 PDF
• 正文语种 eng
• 中图分类
• 关键词

  Reliability; Failure; Defense systems; Space systems; Technology assessment; Performance(engineering); Radiation effects; Dielectrics; High electron mobility transistors;

  机译：可靠性;失效;防御系统;空间系统;技术评估;性能（工程）;辐射效应;电介质;高电子迁移率晶体管;
• 入库时间 2022-08-29 10:46:04