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Magnetic field imaging of a tungsten carbide film by scanning nano-SQUID microscope

机译:扫描纳米SQUID显微镜对碳化钨膜的磁场成像

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摘要

We present the results of magnetic field imaging by scanning nano-superconducting quantum interference device (SQUID) microscopy on a tungsten carbide (W-C) film fabricated using focused-ion-beam chemical vapor deposition. We have investigated magnetic field change by a W-C film in an external magnetic field using a scanning nano-SQUID microscope system. We have found that the reduction of the magnetic field above the W-C film was 0.9%, indicating the penetration of vortices in the W-C at an external magnetic field of 0.171 mT.
机译:我们通过使用聚焦离子束化学气相沉积法制备的碳化钨(W-C)膜上扫描纳米超导量子干涉仪(SQUID)显微镜,介绍磁场成像的结果。我们已经使用扫描纳米SQUID显微镜系统研究了外部磁场中W-C膜的磁场变化。我们发现,在W-C膜上方的磁场的减少为0.9%,这表明在0.171 mT的外部磁场下W-C中的涡旋渗透。

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