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Il nuovo flessimetro ottico applicato allo studio delle tensioni e delle deformazioni nei materiali ceramici

机译:新型光学弯曲仪用于研究陶瓷材料中的张力和变形

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摘要

Relazione presentata al Convegno di aggiornamento tecnologico "Giovanni Biffi" sul tema "Materie prime per piastrelle: recenti novita, qualita e controlli" organizzato da II Sole 24 ORE Business Media-Faenza Editrice il 19 Febbraio 2009 presso la Sala Auditorium di Confindustria Ceramica di Sassuolo. Le deformazioni dei materiali ceramici in seguito a cottura possono avere un'origine complessa. Nei prodotti costituiti da un solo materiale, sono prevalentemente causate da fenomeni piroplastici. Nei prodotti smaltati o in doppio strato e fondamentale considerare anche lo stato tensionale che si sviluppa in raffreddamento tra i vari strati. L'aumento delle dimensioni delle piastrelle, la riduzione del loro spessore e l'utilizzo di cicli di cottura molto rapidi sono fattori che richiedono un controllo accurato della planarita. Nei prodotti porosi lo stato di compressione dello smalto rispetto al supporto deve essere sufficiente per garantire la protezione dal cavillo tardivo e allo stesso tempo ridotto al minimo per non provocare un incurvamento della piastrella. Gia dal 2003, il flessimetro ottico MISURA FLEX consente di studiare le tensioni e le deformazioni che si sviluppano nei materiali ceramici, ma recentemente la Expert System Solutions ha sviluppato un nuovo flessimetro ad "alte prestazioni", per incrementare l'accuratezza di misura ed eliminare ogni deviazione strumentale causata da interferenze termiche. Lo strumento e montato su un piano di riscontro rettificato in granito, in grado di smorzare le vibrazioni e ridurre le deformazioni termiche dovute al riscaldamento della base sulla quale il sistema ottico e installato.
机译:由II Sole 24 ORE Business Media-Faenza Editrice于2009年2月19日在萨索洛的Confindustria Ceramica礼堂举行的“ Giovanni Biffi”技术更新会议上提交了报告。烧制后陶瓷材料的变形可能有复杂的起因。在由单一材料组成的产品中,它们主要是由热塑现象引起的。在搪瓷或双层产品中,考虑各层之间冷却过程中产生的应力状态也很重要。瓷砖尺寸的增加,瓷砖厚度的减小以及使用非常快速的烧制周期是需要精确控制平面度的因素。在多孔产品中,釉料相对于基材的压缩状态必须足以确保防止后期龟裂,并同时降低到最小程度,以免瓷砖弯曲。自2003年以来,MISURA FLEX光学挠度计已用于研究陶瓷材料中产生的张力和变形,但是最近Expert System Solutions开发了一种新型的“高性能”挠度计,以提高测量精度并消除由热干扰引起的任何仪器偏差。该仪器安装在经过整流的花岗岩表面上,能够抑制振动并减少由于安装了光学系统的基座的加热而引起的热变形。

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