Nanotomography extends reach of scanning probe microscopy

Jones-Bey H.

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Nanotomography extends reach of scanning probe microscopy

机译：纳米断层扫描扩大了扫描探针显微镜的范围

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《Laser Focus World: The Magazine for the Photonics & Optoelectronics Industry 》 |2000年第11期| 共1页
作者
Jones-Bey H.;
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原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类光学 ;
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1. Nanotomography extends reach of scanning probe microscopy [J] . Jones-Bey H. Laser Focus World: The Magazine for the Photonics & Optoelectronics Industry . 2000 ,第11期

机译：纳米断层扫描扩大了扫描探针显微镜的范围
2. Tunnelling junctions with additional degrees of freedom: An extended toolbox of scanning probe microscopy [J] . Wagner Christian, Temirov Ruslan Progress in Surface Science . 2015 ,第2期

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