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Atomic force microscopy

机译:原子力显微镜

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摘要

The EvniroScope atomic force microscope (AFM) combines enhanced environmental controls within a sealed hermetic sample chamber and advanced scanning technology to deliver greater application flexibility to research and industrial laboratories looking for a competitive edge.
机译:EvniroScope原子力显微镜(AFM)将密封的密闭样品室内的增强型环境控制与先进的扫描技术相结合,为寻求竞争优势的研究和工业实验室提供了更大的应用灵活性。

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