La microstructure 3D des materiaux polycristallins vue sous la lumiere synchrotron

摘要

Les techniques d'imagerie et de diffraction au rayonnement synchrotron offrent de nouvelles possibilites pourla caracterisation tridimensionnelle et non destructive des materiaux polycristallins. De faibles variations de densite electronique (phases secondaires, fissures, porosites) peuvent etres detectees grace a des modes d imagerie qui exploitent la diffraction de Fresnel ainsi que la coherence des faisceaux issus des sources synchrotron de troisieme generation. La tomographie par contraste de diffraction, autre technique d'imagerie 3D basee sur la diffraction de Bragg, donne acces a la forme, l'orientation et l'etat de deformation elastique des grains dans des volumes polycristallins contenant jusqu'a mille grains. La combinaison de ces deux modes d imagerie permet de caracteriser des materiaux polycristallins a l'echelle du micron Des observations repetees lors d'essais mecaniques (interrompus) permettent d'analyser le role de la cristallographie locale sur les mecanismes de deformation et de degradation dans des materiaux Polycristallins, respectant certaines conditions sur la taille de grains, et/ou leur etat de deformation