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【24h】

Vers une tomographie X 'en temps reel' des pieces plastique

机译:迈向塑料零件的“实时” X射线断层扫描

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摘要

Le projet PlastX, porte par le Centre technique de la plasturgie, vise a developper un systeme de tomographie par rayons X en temps reel pour le controle de pieces plastiques. Il s'appuie pour cela sur une technologie innovante brevetee par la societe Spectroscan. La tomographie a rayons X n'a jamais autant fait parler d'elle. Depuis que cette technologie (issue du domaine medical) fait ses preuves dans l'industrie, elle ne cesse de s'ouvrir a de nouvelles applications. Le projet PlastX, initie en 2010, en apporte une declinaison supplementaire. L'idee est nee d'un besoin identifie par le Centre technique de la plasturgie (PEP). Les industriels de la plasturgie recherchaient un moyen d'utiliser la tomographie par rayons X pour controler tres rapidement les pieces plastique et detecter tous types de defauts avec une resolution elevee, explique David Garcia, responsable conception et simulation au PEP.
机译:由塑料技术中心领导的PlastX项目旨在开发用于控制塑料零件的实时X射线断​​层扫描系统。为此,它依靠Spectroscan公司获得专利的创新技术。从未如此谈论过X射线断层扫描。由于这项技术(来自医疗领域)已经在行业中证明了自己的实力,因此它将继续向新的应用开放。 PlastX项目于2010年启动,提供了另一个变体。这个想法源于塑料加工技术中心(PEP)确定的需求。 PEP的设计和仿真经理David Garcia解释说:“塑料行业一直在寻找一种使用X射线断层扫描技术来快速检查塑料零件并以高分辨率检测所有类型的缺陷的方法。”

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