Quel standard sera utilise demain pour exploiter les informations d'identification et de diagnostic embarquees a bord des instruments de process (capteurs, vannes, etc.)? Deux standards sont en lice, EDDL et FDT/DTM. Dans la foulee de Honeywell et ABB, Yokogawa vient d'annoncer qu'il preparait un outil (FieldMate) faisant appel aux deux technologies. Ces annonces sont importantes car les choses se presentaient mal. Dans un premier temps, les constructeurs avaient en effet pris parti pour l'un ou pour l'autre des deux standards, avec des arguments passionnes qui donnaient a penser que l'on s'acheminait vers une concurrence frontale, la consequence ineluctable etant que les utilisateurs auraient a gerer plusieurs logiciels.
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