机译:使用二次离子质谱(SIMS)和原子力显微镜(AFM)进行化学修饰后,被铝层覆盖的玻璃纤维的表面特性
Matrix-less reference material; Certified reference material; Pyrolysis; Atomic force microscope; Secondary ion mass spectrometry;
机译:使用二次离子质谱(SIMS)和原子力显微镜(AFM)进行化学修饰后,被铝层覆盖的玻璃纤维的表面特性
机译:同时表面增强拉曼光谱(SERS)和原子力显微镜(AFM)用于脂质双层的无标记物化分析
机译:李属叶子的表面形态和化学:使用X射线光电子能谱,飞行时间二次离子质谱,原子力显微镜和扫描电子显微镜的研究
机译:Mn_6〜(III)Cr〜(III)Cr〜(III)的结构〜(3+)单分子磁体沉积在通过分子分辨的原子力显微镜(AFM)和UHV中的Kelvin探针力显微镜(AFM)和Kelvin探针力显微镜研究的表面上的单层磁体
机译:使用飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)和原子力显微镜(AFM)表征聚合物表面。
机译:硫醇盐化学层对GaAs(100)生物功能化的影响:耦合原子力显微镜和质谱法的原始方法
机译:硫醇盐化学层对GaAs(100)生物功能化的影响:耦合原子力显微镜和质谱法的原始方法
机译:通过原子力显微镜(aFm)和同时热重分析调制光谱质谱(sTmBms)研究TaTB的凝聚相热分解