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Dielectric function of epitaxial ZnSe films

机译:Dielectric function of epitaxial ZnSe films

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摘要

We examine various ZnSe spectra to obtain that which best represents the dielectric response ∈ of ZnSe. The measured evolution of pseudodielectric function data with chemical etching shows that the natural overlayer on ZnSe can be modeled accurately only if we assume that it contains amorphous Se. Hence previous assumptions made in correcting mathematically are not correct, and data obtained on stripped samples yield the best representation of ∈.

著录项

  • 来源
    《Applied physics letters》 |2000年第21期|3364-3366|共3页
  • 作者

    M. S. Koo; T. J. Kim; M. S. Lee;

  • 作者单位

    Department of Physics, Kyung Hee University, Seoul 130-701, Korea;

  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 英语
  • 中图分类 应用物理学;
  • 关键词

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