38GHz誘電体共振器を用いた超伝導薄膜の磁場中表面抵抗測定

摘要

380Hz誘電体共振器を用いて超伝導薄膜における表面抵抗（R_s）測定を行った．測定サンプルにはDyBa_2Cu3O_(7-δ)（700nm）/MgO高温超伝導薄膜を用いた. SMAコネクタを用いた測定システムにおいても10mn以下のRs測定が可能であることがわかった. また，38GHzでの測定に用いるサンプルサイズはキャビティの空洞を完全に鞍うことのできる10×10mmの大きさで充分であり，大面積サンプルの面内分布測定が円筒空洞径程度の分解能で可能であることがわかった．