Ideal Cipherの繰り返し構造で構成される暗号学的置換の安全性証明

摘要

Coronらは，鍵長nピット，入出力長nビットのideal cipherを用いた構造を3回繰り返して構成される入出力長2nビットの暗号学的置換の安全性を証明した．これを受けてGuoらは，Coronらの構成を一般化し，その安全性を示した．具体的には，整数k≧1とd＝k＋1に対して，鍵長knビット，入出力長nビットのideal cipherを用いた構造を2d-1回繰り返して構成される入出力長dmビットの暗号学的置換の安全性を証明した．本稿では，Guoらの暗号学的置換に対して，繰り返し回数を2回増やすことで安全性が向上することをcoefficient-H技法を用いて証明する．