液晶物性値の高精度測定法

摘要

電気光学特性に関する液晶の物性値の高精度な測定方法を確立した。液晶の弾性定数、誘電率を測定するC-Vフィッティング法において、容量測定時の液晶ダイレクタの配向制御用駆動電圧方式は正弦波であることが必要であることを明らかにした。また、従来無視されていた液晶セルの配向膜容量とアンカリング強度について、それらを補正して液晶層のみの容量を高精度に得る方法を考案した。本研究で提案した補正方法を用いた新たなC-Vフィッティング法による測定結果は液晶セルの厚さに依存せず、信頼性の高い液晶の物性値を得られることを明らかにした。