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【24h】

The structure of ultrathin oxide on silicon

机译:The structure of ultrathin oxide on silicon

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摘要

30hyphen;Aring;hyphen;thick oxide on silicon has been examined in cross section by highhyphen;resolution electron microscopy. The oxide thickness was uniform to within 5 Aring;, even though the oxide undulated up to 8 Aring; in height and with about 50 Aring; periodicity.

著录项

  • 来源
    《applied physics letters》 |1980年第4期|392-394|共页
  • 作者单位
  • 收录信息 美国《科学引文索引》(SCI);美国《工程索引》(EI);美国《生物学医学文摘》(MEDLINE);
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 英语
  • 中图分类
  • 关键词

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