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Neutronenbeugung an Na2Si2O5-, Na2SiO3- und SiO2-Glas und die Additivität der Intensitätsdaten

机译:Neutronenbeugung an Na2Si2O5-, Na2SiO3- und SiO2-Glas und die Additivität der Intensitätsdaten

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  • 来源
    《naturwissenschaften》 |1966年第1期|16-17|共页
  • 作者

    W.Hoffmann; P.Fischer; G.Maier;

  • 作者单位

    Institut für Kristallographie und Petrographie der Eidgenössischen Technischen Hochschule;

    Institut für Nukleartechnik der Eidgenössischen Technischen Hochschule;

  • 收录信息
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 英语
  • 中图分类
  • 关键词

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